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IGBT和MOS的损耗谁大:

电子元器件常见失效模式:

电子元器件的失效模式多种多样，以下是一些常见的失效模式及其原因：

1. 开路：

   • 原因：内部连接断开、焊点断裂、导线断裂等。

   • 影响：电流无法通过，电路中断。

2. 短路：

   • 原因：绝缘材料损坏、焊锡桥接、内部结构损坏等。

   • 影响：电流绕过正常路径，可能导致过热或损坏其他元件。

3. 参数漂移：

   • 原因：老化、温度变化、湿度影响等。