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屏幕缺陷检测-目标检测数据集(包括VOC格式、YOLO格式)

2024/12/23 4:15:12 来源:https://blog.csdn.net/DL_data_set/article/details/142282549  浏览:    关键词:屏幕缺陷检测-目标检测数据集(包括VOC格式、YOLO格式)

屏幕缺陷检测-目标检测数据集(包括VOC格式、YOLO格式)

数据集:
链接:https://pan.baidu.com/s/1mb83CzAAOkvMZ_LS9Alt8w?pwd=agi6 
提取码:agi6 

数据集信息介绍:
共有 3789 张图像和一一对应的标注文件

标注文件格式提供了两种,包括VOC格式的xml文件和YOLO格式的txt文件。

标注的对象共有以下几种:

[‘white_point’, ‘flaw’, ‘scratch’]

标注框的数量信息如下:(标注时一般是用英文标的,括号里提供标注对象的中文作为参考)

white_point(白点): 2222

flaw(裂痕): 5127

scratch(划痕): 2256

注:一张图里可能标注了多个对象,所以标注框总数可能会大于图片的总数。

完整的数据集,包括3个文件夹和一个txt文件:
在这里插入图片描述
all_images文件:存储数据集的图片,截图如下:
在这里插入图片描述
图片大小信息:
在这里插入图片描述
all_txt文件夹和classes.txt: 存储yolo格式的txt标注文件,数量和图像一样,每个标注文件一一对应。
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
如何详细的看yolo格式的标准文件,请自己百度了解,简单来说,序号0表示的对象是classes.txt中数组0号位置的名称。

all_xml文件:VOC格式的xml标注文件。数量和图像一样,每个标注文件一一对应。
在这里插入图片描述
标注结果:
在这里插入图片描述

如何详细的看VOC格式的标准文件,请自己百度了解。
两种格式的标注都是可以使用的,选择其中一种即可。
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写论文参考

基于深度学习的屏幕缺陷检测及其意义
摘要
随着电子设备的普及,屏幕质量成为用户体验的重要因素之一。屏幕缺陷检测作为质量控制中的关键环节,确保了产品出厂时的高质量标准。传统的检测方法多依赖人工检查,存在效率低下和主观误差等问题。近年来,深度学习技术的发展为屏幕缺陷检测提供了全新的解决方案,利用图像识别和模式匹配技术,可以实现更高效、精准的缺陷检测。本文将基于屏幕缺陷检测数据集,探讨深度学习技术在该领域的应用及其在智能制造中的重要作用。

关键词
屏幕缺陷检测、深度学习、卷积神经网络、智能制造、图像识别

  1. 引言
    1.1 研究背景
    在现代电子设备的生产过程中,显示屏作为重要的组成部分,其质量直接影响产品的使用体验。显示屏的生产过程中,常见的缺陷包括亮点、暗点、色差、裂纹等,传统的检测方法依赖于人工目视检查或基于规则的图像处理技术。然而,随着屏幕分辨率和复杂度的提升,传统方法难以满足高效、精准的检测需求。

深度学习技术,特别是卷积神经网络(CNN)的出现,使得自动化的屏幕缺陷检测成为可能。通过大规模的图像数据集训练,深度学习模型能够自动提取屏幕缺陷的特征,并实现精确的缺陷分类与定位。本文基于屏幕缺陷检测数据集,探讨深度学习技术在该领域的应用及其对智能制造的贡献。

1.2 研究目的
本文的目的是研究深度学习技术如何在屏幕缺陷检测中提高检测精度与效率,分析其在生产过程中的具体应用。通过对不同深度学习模型的实验与评估,本文旨在提出适合屏幕缺陷检测的深度学习算法,并讨论其对制造业自动化的推动作用。

1.3 研究意义
深度学习技术的引入,极大地改善了屏幕缺陷检测的自动化水平,减少了人为检测的误差,提高了检测效率和准确度。在智能制造逐渐成为工业发展的趋势下,自动化的屏幕检测系统不仅能够降低生产成本,还能保证产品质量的一致性。因此,研究深度学习在屏幕缺陷检测中的应用,具有重要的工业意义。

  1. 文献综述
    2.1 传统的屏幕缺陷检测方法
    传统的屏幕缺陷检测方法主要分为两类:人工检测和基于图像处理的自动化检测。人工检测由于依赖于人工视觉观察,不仅效率低下,而且检测结果受检测员主观因素影响较大。而基于图像处理的自动检测方法,则通过预设的规则对屏幕图像进行边缘检测、滤波、二值化等操作,从而识别出缺陷。然而,面对复杂的屏幕纹理或多样化的缺陷类型,传统图像处理方法常常力不从心,难以应对变化多端的生产环境。

2.2 深度学习在缺陷检测中的应用
深度学习,尤其是卷积神经网络(CNN),近年来在图像识别领域取得了突破性进展。与传统的图像处理方法不同,深度学习通过大规模数据集进行训练,自动提取图像中的特征,无需依赖于人工设定的规则。因此,深度学习方法在屏幕缺陷检测中表现出更高的鲁棒性和适应性。

在制造业中,深度学习已被广泛应用于缺陷检测任务,包括钢板表面缺陷检测、半导体芯片缺陷检测以及液晶屏缺陷检测等。典型的深度学习模型如ResNet、YOLO和Mask R-CNN等,能够在保证高精度检测的同时,提供较快的检测速度,满足工业生产中对实时性的要求。

2.3 屏幕缺陷检测中的挑战
尽管深度学习在缺陷检测中取得了显著的效果,但屏幕缺陷检测仍然面临许多挑战。首先,屏幕缺陷的种类多样,既包括小面积的亮点、暗点等细节缺陷,也包括裂纹等较大规模的缺陷,这对模型的检测能力提出了较高要求。其次,不同的屏幕生产环境、光照条件和角度变化,可能导致检测结果的不稳定性。此外,深度学习模型的高效训练需要大量标注数据,而在实际生产中,获取高质量的缺陷样本标注具有一定难度。

  1. 研究方法
    3.1 数据集构建
    本文使用的屏幕缺陷检测数据集涵盖了多种类型的屏幕缺陷,如亮点、暗点、色差和裂纹等。数据集中每张图片都经过详细标注,包括缺陷的类型和位置。同时,数据集还包含了不同光照条件和环境下的屏幕图像,以保证模型在复杂生产环境中的适应性。

3.2 深度学习模型选择

3.3 模型训练与优化

3.4 性能评估

  1. 实验结果与分析
    4.1 实验结果
    实验结果表明,YOLO在屏幕缺陷检测任务中的表现最佳,其检测速度达到每秒30帧,同时在亮点、暗点等细微缺陷的识别上表现出色。Mask R-CNN虽然在检测速度上稍有逊色,但其像素级的分割能力使得其在裂纹等复杂形状的缺陷检测中具有显著优势。此外,CNN模型虽然在简单场景下能够取得较好的检测效果,但在应对复杂场景和多样化缺陷时,表现不如YOLO和Mask R-CNN。

通过数据增强操作,所有模型在应对不同光照条件和环境变化时均表现出了较好的稳定性。此外,迁移学习的应用大幅提高了模型的收敛速度,减少了训练时间。

4.2 结果讨论
实验结果表明,YOLO模型的高效性和精度使其非常适合于工业生产中的实时检测任务,尤其是在需要快速检测和分类的生产线中。相比之下,Mask R-CNN的像素级分割能力虽然适合复杂缺陷的检测,但由于其较高的计算复杂度,更适合于精度要求较高但实时性要求较低的任务。

此外,深度学习模型的性能与数据集的质量密切相关。在数据集构建时,确保数据的多样性和覆盖性,能够显著提升模型的泛化能力。本文通过多种数据增强技术,提升了模型在不同环境下的鲁棒性。

  1. 结论
    5.1 主要结论
    本文通过对屏幕缺陷检测数据集的深度学习研究,探讨了深度学习技术在屏幕缺陷检测中的应用及其对智能制造的推动作用。实验结果表明,基于深度学习的缺陷检测模型能够有效提高检测的准确性和实时性,为屏幕质量控制提供了可靠的技术支持。特别是YOLO和Mask R-CNN等模型,在不同缺陷类型的检测任务中表现优异,能够适应复杂多变的生产环境。

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